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国产科研利器， AI算法驱动的高精度半导体参数测试仪助力中国科研 发布时间 / 2019-03-04 半导体参数测试，是微电子、材料、物理等基础研究和应用研究中非常重要的一个环节，高精密仪器完全为国外公司垄断，传统的测试仪器价格昂贵，软件和测试功能单一而且不方便扩展。针对参数测试中IV,CV,低频噪声...
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人工智能算法落地参数化测试，赋能中国半导体 发布时间 / 2019-02-22 在科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长、摩尔定律已逐渐不再适用的今天，整个测试测量行业也在发生着巨大的变化，我们需要一个更加面向未来的智能测试方案，来打破传统仪器固有的局限。“软件定义测试，算法突破硬件...
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博达微和芯禾科技宣布在逻辑、模拟和射频工艺测试，建模和PDK工程服务领域进行全方位战略合作 发布时间 / 2018-06-05 为了更好地支持和加速中国本土半导体代工厂的先进工艺线量产，全球唯一提供完整半导体逻辑器件模型EDA工具、半导体器件高速量测系统及建模，PDK工程服务一站式方案的本土EDA公司--博达微科技, 携手全球...
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博达微出席DATE 2018并获最佳论文奖 发布时间 / 2018-03-29 DATE(Design Automation And Test in Europe) 是集成电路设计自动化与测试领域的顶级国际会议之一，今年该会议于3月19日至23日在德国Dresden举行。www....
