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博达微出席DATE 2018并获最佳论文奖 发布时间 / 2018-03-29 DATE(Design Automation And Test in Europe) 是集成电路设计自动化与测试领域的顶级国际会议之一，今年该会议于3月19日至23日在德国Dresden举行。www....
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博达微出席第31届国际微电子测试结构会议ICMTS 发布时间 / 2018-03-29 国际微电子测试结构会议(ICMTS)是专门讨论测试结构的研发、测量和分析的主要会议，会议隶属于IEEE，由IEEE电子设备协会主办。ICMTS是业界唯一专注于测试结构设计、测量和使用的会议，与大规模会...
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业界首创AI算法驱动的高精度半导体参数一体化测试系统 发布时间 / 2018-01-18 今天新一代的FS系列 FS-Pro正式面世，相对于前一代FS系列仅针对IV测试，FS-Pro集成了IV测试、CV测试、低频噪声(1/f noise)测试等常用低频特性测量于一体，在单台仪器内完成所有测试需求，真正做到All-In-One！测试速度提升10倍，在低频噪声测试中将原本需要几十秒的测试时间缩短至5秒以内。在产品发布前，FS-Pro已通过了中国电子技术标准化研究院的国家级认证。...
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博达微隆重推出第一款7nm时代的半导体教学工具 发布时间 / 2017-08-15 微纳电子教学套件能够演示大多数最新的半导体器件类型（如FinFET, 28nm CMOS, SOI, Bipolar, III/V及无源器件），和典型电路例如环形振荡器和SRAM。通过真实工业数据与实践，更有效地阐明器件物理及建模原理。微纳电子教学套件可用于微纳电子器件测量实验课、半导体物理教学辅助演示、器件建模教学以及相关科研用途。内含数据可随时升级以实现与不断发展的工业创新及时同步。...
