NC300助力湖南大学科研创新

作者:博达微发布时间:2017-06-23浏览数:1244

2017年6月13日,博达微科技的高速高精度低频噪声系统NC300成功中标湖南大学低频噪声采购项目。

本次项目用户湖南大学物电学院廖蕾教授给予NC300高度评价“课题组评估使用过很多低频噪声系统都无法稳定的满足晶体管的噪声测量要求,系统本身的噪声底都高于我们的器件电流噪声,博达微的NC300噪声测试系统从安装到测试结果产生只用了不到一小时,基本技术指标达到市场同类产品的指标,设备最大优势是测量速度快和成本低,这帮我们在评估器件性能指标上取得了优势。另外博达微为NC300配置了完整的测试控制软件,器件建模仿真软件,极大地方便了我们的科研工作”。廖蕾教授课题组的阿布来提博士即将赴新疆大学工作,他的研究工作中有一部分工作都在测量薄膜晶体管的噪声,通过对比发现NC300可以在相同时间内获得更多的器件噪声数据。

“坚持创新,坚持国际一流,敢于突破传统并且务实是我对中国新一代优秀科学家的认识,廖蕾博士的团队正是这样一群青年科学家的优秀代表,这些也与博达微一直坚持的公司文化高度一致,我非常高兴博达微的产品能够助力中国本土科学家的科研创新,我们也会不断提升本地研发和支持力量,把我们在国际市场上的产品和服务经验更好地服务于中国科学家们”。——博达微科技总裁李严峰

关于NC300

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     ·   业界最快的低频噪声测试系统,保证测试准确性的前提下,测试速度可达8s/bias, 是同类产品的5至10倍

     ·   结构紧凑,集成了PDA SMU、高倍低频噪音放大器、动态信号分析仪,噪声消除机制的自我调节及自动LNA选择算法确保了系统在任何环境中即插即用

     ·   新一代半导体参数分析系统FS系列,配有DC,AC及低频噪声测试功能模块

     ·   超低的本底噪声1e-29A2/Hz

     ·   可准确测量到pA级电流噪声,我们已经证实NC300可以测量到发光二极管中暗电流的低频噪声

     ·   支持连接自动探针台,支持Multi-die/multi-wafer通过自动控制软件实现自动批量测试

     ·   内置建模平台MeQLab ,用户可快速进行Corner噪声建模、统计噪声建模及电路建模与分析


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【关于博达微】

博达微科技致力于提供高性能EDA工具和服务、先进1/f噪声测试系统以及半导体器件参数测量解决方案,确保先进制造工艺技术中的设计质量、产品良率及可靠性。博达微科技将其专有的机器学习算法和专利技术应用于半导体参数测试系统及器件建模流程,大幅提升了测试速度和建模效率。北京博达微科技的前身是 Accelicon Technologies(Accelicon于2012年被安捷伦科技收购),核心团队于2012年6月创办北京博达微科技有限公司(Platform Design Automation, Inc.), 公司总部位于北京,在上海和台湾新竹设有分支机构,公司客户包括海内外领先的半导体代工厂、设计公司、以及研究所和大学。