NC300助力苏州大学纳米所取得学术突破

作者:卢振宇发布时间:2016-12-13浏览数:894

2016年3月7日 北京 博达微低频噪声测试系统NC300的早期用户之一,苏州大学纳米所揭建胜教授团队最近在国际顶级期刊“Advanced Materials”上成功发表了题为“Aligned Single-Crystalline Perovskite Microwire Arrays for High-Performance Flexible Image Sensors with Long-Term Stability”的论文,NC300作为唯一能够下探到Sid~1e-32噪声底的商用测试系统为论文的发表提供了关键数据支撑,“我们评估过很多低频噪声系统都无法满足图像传感器暗电流的噪声测量要求,系统本身的噪声底都高于我们的器件电流噪声,很偶然的机会我们试用了博达微公司的NC300,从安装到测试结果产生只用了不到一小时而且结果稳定可信,这帮我们在评估材料性能,指标上取得了优势,我会把NC300推荐给其他的科研团队。” 苏州纳米所特聘教授揭老师给予NC300高度评价。“我们很高兴能帮助中国科学家们取得学术突破,我们坚持创新和给用户最好的测试体验,揭教授这样优秀的团队就该把时间精力花在他们擅长的材料科研上而不是测试方法上,NC300的先进架构及高灵敏放大器和超低噪声供电模块使测试暗电流噪声成为可能,我们很兴奋能解决一个学术难题。" 博达微科技总裁李严峰说。