博达微出席第31届国际微电子测试结构会议ICMTS

作者:博达微发布时间:2018-03-29浏览数:647

国际微电子测试结构会议(ICMTS)是专门讨论测试结构的研发、测量和分析的主要会议,会议隶属于IEEE,由IEEE电子设备协会主办。ICMTS是业界唯一专注于测试结构设计、测量和使用的会议,与大规模会议不同,专注的会议形式让与会者都有机会深度交流,今年的重点在实现设计的测试结构上。

本届会议于3月19-22日在美国德州奥斯汀举行,博达微半导体参数测试解决方案FS-Pro亮相这一届ICMTS,FS-Pro集成了IV测试、CV测试、低频噪声(1/f noise)测试等常用低频特性测量于一体,在单台仪器内完成所有测试需求,是业界首创AI算法驱动的高精度半导体参数一体化测试系统。


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