博达微出席台湾盟佳科技技术研讨会2017

作者:博达微发布时间:2017-06-30浏览数:574

2017年6月28日,一年一度的GTI台湾客户技术研讨会在新竹举办,本次活动有多达300人出席,创历史新高。博达微科技AI人工智能算法技术主题演讲受到客户高度关注,参与人数众多,会后引起热烈讨论。

讲题: "深度学习" —— 一个基于机器学习的从探针到仿真的完整半导体参数测试生态系统

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 讲题:基于创新机器学习技术之纳米级IC低成本及高精度制程波动特性测试方法

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 讲题: FS系列——基于AI算法的模块化快速IV,CV和1/f半导体参数测量解决方案

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